اشتراک در خبرنامه
لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.
آمار سایت
- کل کاربران ثبت شده: 1962 کاربر
- کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
- میهمانان در حال بازدید: 794 کاربر
- تمام بازدیدها: 21875241 بازدید
- بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 43590 بازدید
کنفرانس های انجمن
همایش
اپتیک و فوتونیک،
بهمن 1403
(برگزار شد)
استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.
جلد 24 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و چهارمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال24 صفحات 176-173 |
برگشت به فهرست نسخه ها
Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:

BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:



Deljoor M, Mozdoor dashtabi M, Massudi R. Resolution enhancement of confocal laser scanning microscopy by detection pinhole axial modulation technique. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2018; 24 :173-176
URL: http://opsi.ir/article-1-1538-fa.html
URL: http://opsi.ir/article-1-1538-fa.html
دلجور محمد، مزدور دشتابی مهدی، مسعودی رضا. بهبود توان تفکیک میکروسکوپی جاروب لیزری همکانون با روش مدولاسیون محوری روزنهی آشکارسازی. مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانسهای انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1396; 24 () :173-176
محمد دلجور*1
، مهدی مزدور دشتابی1
، رضا مسعودی1






1- دانشگاه شهید بهشتی
چکیده: (2604 مشاهده)
با ابداع میکروسکوپی همکانون، علاوه بر اینکه توان تفکیک افزایش یافت، تصویربرداری سه بعدی از نمونههای ضخیم با پراکندگی بالا نیز ممکن گردید. در این مقاله، یک روش پردازش آنی دادهبرداری، با استفاده از مدولاسیون محوری روزنهی آشکارساز متصل به یک تقویت کنندهی قفلشونده، به منظور افزایش توان تفکیک محوری در یک میکروسکوپ جاروب لیزری همکانون ، معرفی شده است. به علاوه، این روش برشنگاری نوری را بهبود بخشیده و همچنین ابهام در مکانیابی نمونه (در بالا یا پایین صفحهی جاروب)، موجود در میکروسکوپی همکانون مرسوم را برطرف میکند.
بازنشر اطلاعات | |
![]() |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |