اشتراک در خبرنامه
لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.
آمار سایت
- کل کاربران ثبت شده: 1962 کاربر
- کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
- میهمانان در حال بازدید: 339 کاربر
- تمام بازدید‌ها: 21897902 بازدید
- بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 45690 بازدید
کنفرانس های انجمن
همایش
اپتیک و فوتونیک،
بهمن 1403
(برگزار شد)
استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.
سال 28، شماره 2 - ( مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و هشتمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران 1400 )
ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال28 صفحات 1025-1022 |
برگشت به فهرست نسخه ها
Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
Taheri Y, Raoufi D. Introduce of two innovative geometrical parameters for surface roughness modeling by atomic force microscope (AFM) test results. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2022; 28 (2) :1022-1025
URL: http://opsi.ir/article-1-2582-fa.html
URL: http://opsi.ir/article-1-2582-fa.html
طاهری یسری، رئوفی داود. معرفی دو پارامتر هندسی نوآورانه جهت مدلسازی زبری سطح توسط نتایج آزمون میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM). مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1400; 28 (2) :1022-1025
یسری طاهری1 
، داود رئوفی*1
، داود رئوفی*1
1- دانشگاه بوعلی همدان
چکیده: (682 مشاهده)
در پژوهش حاضر دو پارامتر نوآورانه هندسی جهت مدلسازی و بررسی دقیقتر زبری سطح توسط آزمون میکروسکوپ نیروی اتمی معرفی شده است. این پارامترها عبارتند از: میانگین مدول شیب سطح و مدول انحنای قله-درهها. به منظور بررسی کاربرد این دو پارامتر، به مقایسه نتایج حاصل از این دو پارامتر با دو پارامتر معمول حاصل از نتایج آزمون AFM در یک مطالعه موردی پرداخته شد.
ارسال پیام به نویسنده مسئول
| بازنشر اطلاعات | |
 |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |
