اشتراک در خبرنامه
لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.
آمار سایت
- کل کاربران ثبت شده: 1961 کاربر
- کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
- میهمانان در حال بازدید: 193 کاربر
- تمام بازدید‌ها: 21796534 بازدید
- بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 12874 بازدید
کنفرانس های انجمن
همایش
اپتیک و فوتونیک،
بهمن 1403
(برگزار شد)
استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.
جلد 25 - مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و پنجمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران
ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال25 صفحات 948-945 |
برگشت به فهرست نسخه ها
Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
Kashi P, Jandaghi M, Nahvifard E, Salimian rizi S. Investigation and correction of thermal lensing during amplification of passively Q switched micro lasers with two stages flash lamp Nd:YAG amplifier. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2019; 25 :945-948
URL: http://opsi.ir/article-1-1924-fa.html
URL: http://opsi.ir/article-1-1924-fa.html
کاشی پریسا، جندقی مریم، نحوی فرد الهه، سلیمیان ریزی سعید. بررسی و تصحیح عدسی گرمایی در حین تقویت میکرولیزر سوئیچ Q انفعالی به وسیله دو مرحله تقویت کننده‌ی فلش لامپی Nd:YAG. مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1397; 25 () :945-948
پریسا کاشی*1 
، مریم جندقی2 ، الهه نحوی فرد1 ، سعید سلیمیان ریزی2
، مریم جندقی2 ، الهه نحوی فرد1 ، سعید سلیمیان ریزی2
1- دانشگاه بین المللی امام خمینی(ره) قزوین
2- مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران
2- مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران
چکیده: (1898 مشاهده)
در این مقاله عدسی شدگی گرمایی در حین تقویت میکرولیزر سوئیچ Q انفعالی به وسیله دو تقویت کننده Nd:YAG دمش شده با لامپ فلش و تصحیح آن، گزارش میشود. میکرولیزر مورد استفاده در این پروژه، تپ‌هایی با انرژی 8 میکروژول و پهنای 800 ps در نرخ تکرار 2KHz و با فاکتور کیفیت باریکه M2<1.3 تولید می کند. تپهای خروجی میکرولیزر بوسیله ی دو مرحله تقویت کننده فلش‌لامپی Nd:YAG تا انرژی تپ 12mj و قله توان15MW در نرخ تکرار 1-10 Hz تقویت شده است. در حین تقویت مهم ترین پارامتر مخرب سیگنال موجب کاهش شدت پرتو میگردد. نتایج تصحیح تجربی با نتایج شبیه سازی و داده های تئوری به خوبی مطابقت دارد.
| بازنشر اطلاعات | |
 |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |
