اشتراک در خبرنامه
لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.
آمار سایت
- کل کاربران ثبت شده: 1961 کاربر
- کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
- میهمانان در حال بازدید: 183 کاربر
- تمام بازدیدها: 21781736 بازدید
- بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 14455 بازدید
کنفرانس های انجمن
همایش
اپتیک و فوتونیک،
بهمن 1403
(برگزار شد)
استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:



URL: http://opsi.ir/article-1-1267-fa.html
در این مقاله، امکان به دست آوردن بلورهای فوتونی یک بعدی که شامل مواد کم هزینه و همیشه در دسترس دی اکسید سیلیکون (SiO2) یا پلی متیل متاکریلات (PMMA) وتک لایههای دی سولفید مولیبیدیوم (MoS2 ) است ارائه شده است. باا اعمال ماتریس انتقال تحت باریکه گاوسی به بلورهای فوتونی با لایه های SiO2/ MoS2 وMoS2 / PMMA و بکارگیری ضرایب شکست وابسته به طول موج این لایه ها، طیف تراگسیل و ویژگیهای گاف نواری فوتونی آنها مورد بررسی قرار گرفته است. با افزایش مختصه شعاعی rدر باریکه گاوسی، مکان گاف نوارهای فوتونی به سمت فرکانسهای پایین تر جابجا شدند. با افزایش ضخامت لایههای درهر یک از این بلورهای فوتونی، پهنای گاف نواری بطور قابل ملاحظهای افزایش یافت و یک جابجایی به سمت فرکانس های پایین تر را نشان داد.
بازنشر اطلاعات | |
![]() |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |