اشتراک در خبرنامه
لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.
آمار سایت
- کل کاربران ثبت شده: 1972 کاربر
- کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
- میهمانان در حال بازدید: 730 کاربر
- تمام بازدید‌ها: 25195762 بازدید
- بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 32280 بازدید
کنفرانس های انجمن
همایش
اپتیک و فوتونیک،
بهمن 1404
(در مرحله دریافت مقالات)
استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
URL: http://opsi.ir/article-1-1194-fa.html
، علیرضا کشاورز1
در این مقاله به بررسی طیف جذب برای بلورهای فوتونی گرافن دار در حضور فراماده پرداخته شده است. با توجه به اینکه حضور گرافن در بلور های فوتونی باعث افزایش جذب در ناحیه ی تراهرتز می شود، در این تحقیق با بهره گیری از روش ماتریس انتقال و حضور فراماده در کنار گرافن در بلورهای فوتونی، ضریب جذب در حضور فراماده با ضخامت های مختلف بررسی شده است. نتایج نشان می دهند که با افزایش ضخامت لایه ی فراماده، جذب، افزایش بیشتری نسبت به حالت عدم حضور فراماده در پی خواهد داشت و این بهبود آشکار سازی در ناحیه ی تراهرتز را به دنبال دارد.
| بازنشر اطلاعات | |
 |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |
