اشتراک در خبرنامه
لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.
آمار سایت
- کل کاربران ثبت شده: 1961 کاربر
- کاربران حاضر در وبگاه: 1 کاربر
- میهمانان در حال بازدید: 157 کاربر
- تمام بازدیدها: 21784597 بازدید
- بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 12428 بازدید
کنفرانس های انجمن
همایش
اپتیک و فوتونیک،
بهمن 1403
(برگزار شد)
استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:



URL: http://opsi.ir/article-1-1170-fa.html






در این پژوهش برای لایه نشانی پروسکایت ، از روش لایه نشانی دو مرحله ای استفاده شد. در مرحله اول، محلول سرب یدید به روش لایه نشانی چرخشی بر روی لایه ی نانو ساختار تیتانیوم دی اکسید قرار گرفت. در مرحله دوم، با روش لایه نشانی غوطه وری، محلول ایزوپروپانول HC(NH2)2Iبا دماهای مختلف بر روی سرب یدید نشانده شد. نتیجه ی این دو مرحله لایه نشانی ، قرار گرفتن یک لایه ی پروسکایت HC(NH2)2PbI3بر روی لایه ی متخلخل TiO2بود. مشخصه یابی فوتوولتایی سلول، از قبیل بازده تبدیل توان ، ضریب پرشدگی، ولتاژ مدار باز، چگالی جریان مدار کوتاه انجام گرفت و نتایج با یکدیگر مقایسه گردید تا دمای بهینه مشخص شود.
بازنشر اطلاعات | |
![]() |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |