در این پژوهش از جفت لایه ی سیلیکن اکسید/سیلیکن نیترید برای کپسوله کردن دیود نورافشان آلی با زیرلایه شیشه استفاده شده است. زمانی که لایه سیلیکن نیترید روی ساختار دیود نورافشان آلی لایه نشانی می شود کارایی سیستم نسبت به حالت کپسوله نشده افت می کند. به منظور رفع این مشکل از میان لایه سیلیکن اکسید برای محافظت ساختار دیود نورافشان آلی در برابر آسیب های لایه نشانی به روش کندوپاش استفاده شد. لایه نازک سیلیکن نیترید به روش کندوپاش و لایه نازک سیلیکن اکسید به روش تبخیر فیزیکی و در محفظه ی خلاء لایه نشانی شدند. پس از لایه نشانی مشخصه ی جریان-ولتاژ اندازه گیری شد و طیف تابش دیود مورد بررسی قرار گرفت و در نهایت طول عمر دیود اندازه گیری شد. نمونه ی کپسوله شده با لایه نازک نیمه عمر حدودا 542 ساعت و نمونه ی کپسوله شده با شیشه نیمه عمر حدودا 1078 ساعت دارند. نتایج بررسی ها نشان می دهد که طول عمر نمونه ی کپسوله شده با لایه نازکسیلیکن اکسید/سیلیکن نیترید حدود نصف نیمه عمر نمونه ی کپسوله شده با شیشه است.