fa اندازه گیری ضریب شکست و ضخامت لایه نازک MgF2 بر روی بستر BK7 به روش بیضی سنجی نول تخصصی Special تجربی Experimental در این تحقیق بااستفاده از چیدمان آزمایشگاهی بیضی سنجی نول ضریب شکست و ضخامت لایه MgF₂ بر روی بستر BK7 اندازه گیری شده است. در این چیدمان با تابش نور لیزر هلیوم نئون تحت زوایای 45، 50 و 55 درجه به نمونه ضریب شکست و ضخامت لایه MgF₂ توسط برنامه نوشته شده در نرم افزار متلب تعیین گردیده است. نتایج به دست آمده با نتایج واقعی تطابق خوبی نشان می دهد In this paper, the refractive index and thickness of MgF₂ thin film on BK7 substrate have been measured using the null ellipsometry. In this arrangement, helium neon laser light irradiation at angles of 45, 50 and 55 degrees to the sample. The refractive index and thickness of the MgF₂ layer is determined by the program written in MATLAB software. The results show a good agreement with the real results. بیضی سنجی نول , لایه نازک, ضریب شکست null ellipsometry, refractive index, thin film 434 437 http://opsi.ir/browse.php?a_code=A-10-1971-233&slc_lang=fa&sid=1 Masoud Kavosh Tehrani مسعود کاوش تهرانی m_kavosh@mut-es.ac.ir 100319475328460010786 100319475328460010786 Yes Assef Abdalhade آصف عبدالهادی assefabdalhade@gmail.com 100319475328460010787 100319475328460010787 No Ali kiani علی کیانی kiani2231@gmail.com 100319475328460010788 100319475328460010788 No