fa تقویت موضعی میدان الکتریکی در طیف سنجی رامان تقویت‌شده با تیپ با استفاده از نور قطبیده خطی تخصصی Special پژوهشي Research <span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">در این مقاله از محاسبات تفاضل محدود در حوزه زمان (</span></span><span dir="LTR" style="font-weight:normal;">FDTD</span><span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">) برای</span></span> <span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">تخمین</span></span> <span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">شدت و توزیع میدان الکتریکی بصورت موضعی تقویت شده در طیف سنجی رامان تقویت شده با تیپ</span></span><span dir="LTR" style="font-weight:normal;"> (TERS) </span><span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">در مجاورت تیپ نقره ای</span></span>&nbsp; <span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">به</span></span> <span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">قطر 10 نانومتر استفاده شده است. از شبیه سازی&shy;ها برای پیش بینی شدت و توزیع میدان الکتریکی بصورت تقویت شده موضعی در طیف سنجی رامان تقویت شده با تیپ</span></span><span dir="LTR" style="font-weight:normal;"> (TERS) </span><span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">استفاده می‌شود. میدان الکتریکی تقویت شده ناشی از یک نور قطبیده خطی در دو&nbsp; پیکربندی </span></span>(<span dir="LTR" style="font-weight:normal;">TERS</span><span style="font-weight:normal;">)&nbsp; </span><span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">با زیرلایه و بدون زیرلایه در کنار هم مقایسه شده است. </span></span><span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">برای این&shy;منظور، یک منبع نور قطبیده خطی در مدل سازی </span></span><span dir="LTR" style="font-weight:normal;">FDTD</span>&nbsp; <span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">بکار </span></span><span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">رفته است </span></span><span dir="LTR" style="font-weight:normal;"><span style="font-size:11.0pt;">.</span></span><span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">علاوه بر این، تأثیر استفاده از یک لایه محافظ نازک آلومینا در میزان تقویت میدان الکتریکی بررسی شده است</span></span><span dir="LTR" style="font-weight:normal;"><span style="font-size:11.0pt;">.</span></span><span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;"> نتایج نشان می&shy;دهد که&nbsp; استفاده از یک لایه نازک از جنس طلا &nbsp;به &shy;عنوان یک بستر برای اندازه‌گیری</span></span><span dir="LTR" style="font-weight:normal;"><span style="font-size:11.0pt;">TERS </span></span><span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">، می‌تواند افزایش قابل&shy;توجهی در حساسیت به&shy;دست دهد. علاوه بر این،</span></span> <span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">&nbsp;نتایج &nbsp;نشان می&shy;دهد که اضافه کردن یک لایه محافظ نازک به تیپ</span></span><span dir="LTR" style="font-weight:normal;"><span style="font-size:11.0pt;">TERS </span></span><span style="font-family:B Nazanin;"><span style="font-size:11.0pt;">، شدت میدان الکتریکی را کاهش می&shy;دهد.</span></span> Finite-Difference Time-Domain (FDTD) calculations are used estimate the electric field in the vicinity of a sharp silver cone with an apex diameter of 10 nm. The simulations are utilized to predict the intensity and the distribution of the locally enhanced electric field in Tip<span dir="RTL">-</span>Enhanced Raman Spectroscopy (TERS). A side-by-side comparison of the enhanced electric field induced by a linearly polarized light in both gap-mode and conventional TERS setup is performed. For this purpose, a linearly polarized source is introduced and integrated into the FDTD modelling. Additionally, the optical effect of a thin protective layer of alumina on the enhancement of the electric field is investigated. Results show that by utilizing a thin film of as a substrate for TERS measurements, a considerable increase in the sensitivity can be achieved. Additionally, results show that adding a thin protective layer to the TERS tip decreases the intensity of the electric field. تقویت میدان الکتریکی, طیف سنجی رامان تقویت شده با تیپ, تفاضل محدود در حوزه زمان Electric Field Enhancement, Tip-Enhanced Raman Spectroscopy, Finite-Difference Time-Domain 750 754 http://opsi.ir/browse.php?a_code=A-10-1-2450&slc_lang=fa&sid=1 Adeleh Noori عادله نوری 10031947532846009518 10031947532846009518 Yes Qom University, Qom دانشگاه قم، قم Maryam Bahreini مریم بحرینی 10031947532846009519 10031947532846009519 No Iran University of Science and Technology, Tehran دانشگاه علم و صنعت ایران، تهران Seyed Hashem Aref سید هاشم عارف 10031947532846009520 10031947532846009520 No Qom University, Qom دانشگاه قم، قم