<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?>
<journal>
<title>Accepted and Presented Articles of OPSI Conferences</title>
<title_fa>مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران</title_fa>
<short_title>ICOP &amp; ICPET _ INPC _ ICOFS</short_title>
<subject>Basic Sciences</subject>
<web_url>http://opsi.ir</web_url>
<journal_hbi_system_id>1</journal_hbi_system_id>
<journal_hbi_system_user>admin</journal_hbi_system_user>
<journal_id_issn>1126-3278</journal_id_issn>
<journal_id_issn_online>10</journal_id_issn_online>
<journal_id_pii>8</journal_id_pii>
<journal_id_doi>7</journal_id_doi>
<journal_id_iranmedex></journal_id_iranmedex>
<journal_id_magiran></journal_id_magiran>
<journal_id_sid>14</journal_id_sid>
<journal_id_nlai>8888</journal_id_nlai>
<journal_id_science>13</journal_id_science>
<language>fa</language>
<pubdate>
	<type>jalali</type>
	<year>1397</year>
	<month>12</month>
	<day>1</day>
</pubdate>
<pubdate>
	<type>gregorian</type>
	<year>2019</year>
	<month>3</month>
	<day>1</day>
</pubdate>
<volume>25</volume>
<number>ICOP & ICPET 2019</number>
<publish_type>online</publish_type>
<publish_edition>1</publish_edition>
<article_type>fulltext</article_type>
<articleset>
	<article>


	<language>fa</language>
	<article_id_doi></article_id_doi>
	<title_fa>تاثیر ضخامت مس و ایندیوم در فیلم نازک رسانای شفاف 〖MoO〗_3/In/Cu/In/〖MoO〗_3</title_fa>
	<title>Influence of copper and indium thicknesses in the transparent conductive thin film: 〖MoO〗_3/In/Cu/In/〖MoO〗_3</title>
	<subject_fa>تخصصی</subject_fa>
	<subject>Special</subject>
	<content_type_fa>پژوهشي</content_type_fa>
	<content_type>Research</content_type>
	<abstract_fa>&lt;h3 dir=&quot;RTL&quot; style=&quot;text-align:justify;text-justify:kashida;text-kashida:0%;&quot;&gt;&lt;strong&gt;&lt;span style=&quot;color:black;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-family:b nazanin;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size:11.0pt;&quot;&gt;در این مطالعه تاثیر ضخامت لایه مس به عنوان لایه هدایت کننده الکتریکی و ایندیوم به عنوان لایه واسط در فیلم نازک ساندویچ شده توسط تری اکسید مولیبدن مورد بررسی قرار می&amp;shy;گیرد. برای دست یافتن به ساختار فوق، لایه&amp;shy;های نازک روی زیرلایه شیشه&amp;shy;ای به روش تبخیر حرارتی لایه&amp;shy;نشانی شده&amp;shy;اند. طیف عبوری در ناحیه مرئی بوسیله دستگاه طیف&amp;shy;سنج دو پرتویی و مقاومت الکتریکی سطحی پوشش توسط دستگاه پروپ چهارسر اندازه&amp;shy;گیری شده است. همچنین کیفیت و زبری سطح توسط میکروسکوپ نیروی اتمی اندازه&amp;shy;گیری شده است. نتایج آزمایشگاهی نشان می&amp;shy;دهد که بیشینه مقدار تابع شایستگی مربوط به ضخامت مس 12 نانومتر و ایندیوم 3 نانومتر است.&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/strong&gt;&lt;/h3&gt;
</abstract_fa>
	<abstract>&lt;h5&gt;In this study, the role of copper as an electric conductive layer and indium as an interface layer in a thin film of molybdenum trioxide sandwich have been investigated. To achieve the above structure, the thin layers are deposited on the substrate by thermal evaporation of the layer. Transmission spectrum in the visible region was measured by two-beam spectrophotometer instrument and electrical resistance was measured by the four-point probe. The experimental results show that the maximum value of the suitability function is 8 nm copper thickness and 3 nm indium thickness&lt;span dir=&quot;RTL&quot;&gt;.&lt;/span&gt;&lt;/h5&gt;
</abstract>
	<keyword_fa>طیف عبوری, فیلم نازک رسانای شفاف, لایه‌نشانی, لایه واسط, مقاومت الکتریکی</keyword_fa>
	<keyword>Transmission spectrum, Thin film, Deposition, Interface layer, Electrical resistance</keyword>
	<start_page>1001</start_page>
	<end_page>1004</end_page>
	<web_url>http://opsi.ir/browse.php?a_code=A-10-1-1785&amp;slc_lang=fa&amp;sid=1</web_url>


<author_list>
	<author>
	<first_name>Masoud</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>Abdollahi</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>مسعود</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>عبدالهی</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email></email>
	<code>10031947532846007659</code>
	<orcid>10031947532846007659</orcid>
	<coreauthor>Yes
</coreauthor>
	<affiliation>Department of Physics, Shiraz University of Technology</affiliation>
	<affiliation_fa>دانشگاه صنعتی شیراز</affiliation_fa>
	 </author>


	<author>
	<first_name>Erfan</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>Kadivar</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>عرفان</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>کدیور</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email></email>
	<code>10031947532846007660</code>
	<orcid>10031947532846007660</orcid>
	<coreauthor>No</coreauthor>
	<affiliation>Department of Physics, Shiraz University of Technology</affiliation>
	<affiliation_fa>دانشگاه صنعتی شیراز</affiliation_fa>
	 </author>


</author_list>


	</article>
</articleset>
</journal>
