<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?>
<journal>
<title>Accepted and Presented Articles of OPSI Conferences</title>
<title_fa>مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران</title_fa>
<short_title>ICOP &amp; ICPET _ INPC _ ICOFS</short_title>
<subject>Basic Sciences</subject>
<web_url>http://opsi.ir</web_url>
<journal_hbi_system_id>1</journal_hbi_system_id>
<journal_hbi_system_user>admin</journal_hbi_system_user>
<journal_id_issn>1126-3278</journal_id_issn>
<journal_id_issn_online>10</journal_id_issn_online>
<journal_id_pii>8</journal_id_pii>
<journal_id_doi>7</journal_id_doi>
<journal_id_iranmedex></journal_id_iranmedex>
<journal_id_magiran></journal_id_magiran>
<journal_id_sid>14</journal_id_sid>
<journal_id_nlai>8888</journal_id_nlai>
<journal_id_science>13</journal_id_science>
<language>fa</language>
<pubdate>
	<type>jalali</type>
	<year>1397</year>
	<month>12</month>
	<day>1</day>
</pubdate>
<pubdate>
	<type>gregorian</type>
	<year>2019</year>
	<month>3</month>
	<day>1</day>
</pubdate>
<volume>25</volume>
<number>ICOP & ICPET 2019</number>
<publish_type>online</publish_type>
<publish_edition>1</publish_edition>
<article_type>fulltext</article_type>
<articleset>
	<article>


	<language>fa</language>
	<article_id_doi></article_id_doi>
	<title_fa>بررسی خواص اپتیک غیرخطی لایه‌های نازک نانوساختار مس تهیه شده با روش لایه‌نشانی تبخیر گرمایی مقاومتی</title_fa>
	<title>Investigation of Nonlinear Optical Properties of Thin Cu Nano-Structure Films Prepared by Resistance Thermal Evaporation deposition</title>
	<subject_fa>تخصصی</subject_fa>
	<subject>Special</subject>
	<content_type_fa>پژوهشي</content_type_fa>
	<content_type>Research</content_type>
	<abstract_fa>&lt;strong&gt;&lt;span style=&quot;font-family:b nazanin;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size:11.0pt;&quot;&gt;دراین مقاله خواص اپتیک غیر خطی لایه&amp;shy;های نازک نانوساختار مس شامل ضریب شکست و ضریب جذب غیرخطی مورد بررسی قرار گرفته اند. نمونه ها در دو ضخامت &lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/strong&gt;&lt;span dir=&quot;LTR&quot;&gt;nm&lt;/span&gt;&lt;strong&gt;&lt;span style=&quot;font-family:b nazanin;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size:11.0pt;&quot;&gt; 25 و &lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/strong&gt;&lt;span dir=&quot;LTR&quot;&gt;nm&lt;/span&gt;&lt;strong&gt;&lt;span style=&quot;font-family:b nazanin;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size:11.0pt;&quot;&gt;130 و با روش لایه&amp;shy;نشانی تبخیر گرمایی مقاومتی تهیه شده اند، همچنین از تکنیک جاروب-&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/strong&gt;&lt;span dir=&quot;LTR&quot;&gt;Z&lt;/span&gt;&lt;strong&gt;&lt;span style=&quot;font-family:b nazanin;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size:11.0pt;&quot;&gt; با لیزر دیودی پیوسته در طول موج &lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/strong&gt;&lt;span dir=&quot;LTR&quot;&gt;nm&lt;/span&gt;&lt;strong&gt;&lt;span style=&quot;font-family:b nazanin;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size:11.0pt;&quot;&gt;532 ، برای بدست آوردن خواص اپتیک غیرخطی استفاده شده است. نتایج این بررسی نشان می&amp;shy;دهد ضریب شکست غیرخطی با افزایش ضخامت لایه&amp;shy;ها تغییر علامت می&amp;shy;دهد و ضریب جذب غیر خطی کاهش می&amp;shy;یابد.&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/strong&gt;&lt;span dir=&quot;LTR&quot;&gt;&lt;/span&gt;</abstract_fa>
	<abstract>In this paper, the nonlinear optical properties of copper nanostructure thin-films, including nonlinear refractive index and absorption coefficient, have been investigated. The samples were prepared in two thicknesses of 25 nm and 130 nm by Resistance Thermal Evaporation(RTE) deposition method, also the Z- Scan technique with continuous diode laser at 532 nm was used to obtain nonlinear optical properties. The results of this study shows that the sing of nonlinear refractive index changes with increasing thickness of the films, and the nonlinear absorption coefficient decreases.&lt;strong&gt;&lt;span dir=&quot;RTL&quot;&gt;&lt;/span&gt;&lt;/strong&gt;</abstract>
	<keyword_fa>ضریب شکست و ضریب جذب غیرخطی, لایه‌های نازک فلزی, لایه‌نشانی تبخیر گرمایی مقاومتی </keyword_fa>
	<keyword>Copper nanostructure thin-films, Nonlinear refractive index and absorption coefficient, Resistance Thermal Evaporation(RTE) deposition</keyword>
	<start_page>457</start_page>
	<end_page>460</end_page>
	<web_url>http://opsi.ir/browse.php?a_code=A-10-1-1735&amp;slc_lang=fa&amp;sid=1</web_url>


<author_list>
	<author>
	<first_name>Mahsa</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>Etminan</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>مهسا</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>اطمینان</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email></email>
	<code>10031947532846007513</code>
	<orcid>10031947532846007513</orcid>
	<coreauthor>Yes
</coreauthor>
	<affiliation>Department of Physics, University of Tehran</affiliation>
	<affiliation_fa>دانشگاه تهران</affiliation_fa>
	 </author>


	<author>
	<first_name>Noshin sadat</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>Hosseini tehrani</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>نوشین السادات</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>حسینی تهرانی</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email></email>
	<code>10031947532846007514</code>
	<orcid>10031947532846007514</orcid>
	<coreauthor>No</coreauthor>
	<affiliation>Department of Physics, University of Tehran</affiliation>
	<affiliation_fa>دانشگاه تهران</affiliation_fa>
	 </author>


	<author>
	<first_name>Ataollah</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>Koohian mohammad abadi</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>عطااله</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>کوهیان محمد آبادی</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email></email>
	<code>10031947532846007515</code>
	<orcid>10031947532846007515</orcid>
	<coreauthor>No</coreauthor>
	<affiliation>Department of Physics, University of Tehran</affiliation>
	<affiliation_fa>دانشگاه تهران</affiliation_fa>
	 </author>


</author_list>


	</article>
</articleset>
</journal>
