<?xml version="1.0" encoding="utf-8"?>
<journal>
<title>Accepted and Presented Articles of OPSI Conferences</title>
<title_fa>مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران</title_fa>
<short_title>ICOP &amp; ICPET _ INPC _ ICOFS</short_title>
<subject>Basic Sciences</subject>
<web_url>http://opsi.ir</web_url>
<journal_hbi_system_id>1</journal_hbi_system_id>
<journal_hbi_system_user>admin</journal_hbi_system_user>
<journal_id_issn>1126-3278</journal_id_issn>
<journal_id_issn_online>10</journal_id_issn_online>
<journal_id_pii>8</journal_id_pii>
<journal_id_doi>7</journal_id_doi>
<journal_id_iranmedex></journal_id_iranmedex>
<journal_id_magiran></journal_id_magiran>
<journal_id_sid>14</journal_id_sid>
<journal_id_nlai>8888</journal_id_nlai>
<journal_id_science>13</journal_id_science>
<language>fa</language>
<pubdate>
	<type>jalali</type>
	<year>1396</year>
	<month>12</month>
	<day>1</day>
</pubdate>
<pubdate>
	<type>gregorian</type>
	<year>2018</year>
	<month>3</month>
	<day>1</day>
</pubdate>
<volume>24</volume>
<number>مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و چهارمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران </number>
<publish_type>online</publish_type>
<publish_edition>1</publish_edition>
<article_type>fulltext</article_type>
<articleset>
	<article>


	<language>fa</language>
	<article_id_doi></article_id_doi>
	<title_fa>بررسی اثر نقص‌های کلوخه‌ای در آستانه تخریب لیزری فیلترهای اپتیکی </title_fa>
	<title>Investigation the effect of nodular defects on Laser Damage Threshold of optical filters </title>
	<subject_fa>تخصصی</subject_fa>
	<subject>Special</subject>
	<content_type_fa>پژوهشي</content_type_fa>
	<content_type>Research</content_type>
	<abstract_fa>&lt;span style=&quot;font-size: small;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-family: times new roman;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-style: normal;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size: 10pt;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-family: b nazanin;&quot;&gt;&lt;strong&gt;در این تحقیق، اثرنقص های کلوخه ای در تخریب لیزری فیلترهای اپتیکی، مورد مطالعه قرار گرفته است. زیر لایه&amp;shy;های مورد استفاده در این تحقیق از جنس &lt;/strong&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;span dir=&quot;LTR&quot; style=&quot;font-weight: normal;&quot;&gt;BK7&lt;/span&gt;&lt;span style=&quot;font-style: normal;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size: 10pt;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-family: b nazanin;&quot;&gt;&lt;strong&gt; بودند. پس از تمیزکاری زیر لایه ها، لایه نشانی بازتاب بالا در ناحیه&amp;shy;ی طول موجی &lt;/strong&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;span dir=&quot;LTR&quot; style=&quot;font-weight: normal;&quot;&gt;nm&lt;/span&gt;&lt;span style=&quot;font-style: normal;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size: 10pt;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-family: b nazanin;&quot;&gt;&lt;strong&gt; 1064 بر روی نمونه ها انجام شد. در ادامه بررسی نقص ها با استفاده از میکروسوپ های &lt;/strong&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;em&gt;&lt;span style=&quot;font-family: times new roman;&quot;&gt;&lt;span dir=&quot;LTR&quot; style=&quot;font-weight: normal;&quot;&gt;SEM&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/em&gt;&lt;span style=&quot;font-style: normal;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size: 10pt;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-family: b nazanin;&quot;&gt;&lt;strong&gt; و &lt;/strong&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;em&gt;&lt;span style=&quot;font-size: small;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-family: times new roman;&quot;&gt;&lt;span dir=&quot;LTR&quot; style=&quot;font-weight: normal;&quot;&gt;AFM&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/em&gt;&lt;span style=&quot;font-style: normal;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size: 10pt;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-family: b nazanin;&quot;&gt;&lt;strong&gt; و نیز میکروسکوپ نوری انجام شد. در انتها نیز آزمون آستانه تخریب ناشی از لیزر با استفاده از یک&amp;nbsp; لیزر پالسی &lt;/strong&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;em&gt;&lt;span style=&quot;font-family: times new roman;&quot;&gt;&lt;span dir=&quot;LTR&quot; style=&quot;font-weight: normal;&quot;&gt;mj&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/em&gt;&lt;span style=&quot;font-style: normal;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size: 10pt;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-family: b nazanin;&quot;&gt;&lt;strong&gt;16 با قطر لکه کانونی &lt;/strong&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;em&gt;&lt;span style=&quot;font-family: times new roman;&quot;&gt;&lt;span dir=&quot;LTR&quot; style=&quot;font-weight: normal;&quot;&gt;&amp;micro;m&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/em&gt;&lt;span style=&quot;font-style: normal;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size: 10pt;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-family: b nazanin;&quot;&gt;&lt;strong&gt;160، بر روی نمونه&amp;shy;ها انجام گرفت. در انتها، محل&amp;shy;های تخریب شده با استفاده از میکروسکوپ نوری &lt;/strong&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;em&gt;&lt;span style=&quot;font-family: times new roman;&quot;&gt;&lt;span dir=&quot;LTR&quot; style=&quot;font-weight: normal;&quot;&gt;ZEISS&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/em&gt;&lt;span style=&quot;font-style: normal;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-size: 10pt;&quot;&gt;&lt;span style=&quot;font-family: b nazanin;&quot;&gt;&lt;strong&gt; بررسی شدند.&lt;/strong&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;/span&gt;&lt;span style=&quot;font-weight:normal;&quot; dir=&quot;LTR&quot;&gt;&lt;/span&gt;&lt;br&gt;
&amp;nbsp;</abstract_fa>
	<abstract>&lt;p class=&quot;AbstractEnglish&quot; style=&quot;margin: 9pt 0in;&quot;&gt;&lt;font size=&quot;2&quot;&gt;&lt;font color=&quot;#000000&quot;&gt;&lt;font face=&quot;Times New Roman&quot;&gt;In this investigation, the effect of Nodular defects in Laser Induced Damage Threshold of optical filters was discussed. For this work, BK7 substrates were used. After substrate cleaning, high reflection coating was performed on substrates in 1064 nm wavelength. Then, Nodular defects were researched by AFM, SEM and optical microscopes. Finally, The Laser Induced Damage Threshold (LIDT) test was performed by 16 mj Nd:YAG pulsed laser, by 160 &amp;micro;m diameter in beam waist, in 1064 nm, for all samples. Finally, Damaged places were investigated by optical microscopes(Zeiss).&lt;!--stripped--&gt;&lt;!--stripped--&gt;&lt;/font&gt;&lt;/font&gt;&lt;/font&gt;&lt;/p&gt;
</abstract>
	<keyword_fa>نقص‌های کلوخه‌ای, باریکه الکترونی, آستانه تخریب ناشی از لیزر, بذر</keyword_fa>
	<keyword>Nodular defects, Electron beam, Laser Induced Damage Threshold (LIDT), Seed.</keyword>
	<start_page>745</start_page>
	<end_page>748</end_page>
	<web_url>http://opsi.ir/browse.php?a_code=A-10-1-1505&amp;slc_lang=fa&amp;sid=1</web_url>


<author_list>
	<author>
	<first_name>Ali</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>Mashayekhi asl</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>علی</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>مشایخی اصل</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email></email>
	<code>10031947532846006764</code>
	<orcid>10031947532846006764</orcid>
	<coreauthor>Yes
</coreauthor>
	<affiliation>PhysicsIranian National Center for Laser Science and Technology</affiliation>
	<affiliation_fa>مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران</affiliation_fa>
	 </author>


	<author>
	<first_name>Mahdi</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>Anaraki</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>مهدی</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>انارکی</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email></email>
	<code>10031947532846006765</code>
	<orcid>10031947532846006765</orcid>
	<coreauthor>No</coreauthor>
	<affiliation>PhysicsIranian National Center for Laser Science and Technology</affiliation>
	<affiliation_fa>مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران</affiliation_fa>
	 </author>


	<author>
	<first_name>Nazli</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>Rahimzadeh</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>نازلی</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>رحیم زاده</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email></email>
	<code>10031947532846006766</code>
	<orcid>10031947532846006766</orcid>
	<coreauthor>No</coreauthor>
	<affiliation>PhysicsIranian National Center for Laser Science and Technology</affiliation>
	<affiliation_fa>مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران</affiliation_fa>
	 </author>


	<author>
	<first_name>Sadegh</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>Miri</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>صادق</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>میری</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email></email>
	<code>10031947532846006767</code>
	<orcid>10031947532846006767</orcid>
	<coreauthor>No</coreauthor>
	<affiliation>PhysicsIranian National Center for Laser Science and Technology</affiliation>
	<affiliation_fa>مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران</affiliation_fa>
	 </author>


	<author>
	<first_name>Jahanbakhsh</first_name>
	<middle_name></middle_name>
	<last_name>Mashayekhi asl</last_name>
	<suffix></suffix>
	<first_name_fa>جهانبخش</first_name_fa>
	<middle_name_fa></middle_name_fa>
	<last_name_fa>مشایخی اصل</last_name_fa>
	<suffix_fa></suffix_fa>
	<email></email>
	<code>10031947532846006768</code>
	<orcid>10031947532846006768</orcid>
	<coreauthor>No</coreauthor>
	<affiliation>PhysicsIranian National Center for Laser Science and Technology</affiliation>
	<affiliation_fa>مرکز ملی علوم و فنون لیزر ایران</affiliation_fa>
	 </author>


</author_list>


	</article>
</articleset>
</journal>
