fa ضخامت سنجی لایه های شفاف بر پایه روش مقطع نگاری همدوس نوری توسط منبع نور با طول همدوسی کم تخصصی Special پژوهشي Research <p><strong>روش مقطع نگاری همدوس نوری (</strong><span dir="LTR">OCT</span><strong>) در محدوده زمانی به عنوان یک روش غیرتماسی و غیر مخرب برای ضخامت سنجی مواد مختلف شفاف بکار گرفته می شود. این روش به دلیل استفاده از تداخل سنجی توسط یک منبع نور با پهنای باند وسیع و طول همدوسی کم، دارای قدرت تفکیک محوری بالا و دقت کافی می باشد. در این مقاله به طور تجربی نشان خواهیم داد که روش مقطع نگاری همدوس نوری می تواند به عنوان یک روش دقیق جهت اندازه گیری ضخامت لایه های شفاف میکرونی نظیرکریستال دوشکستی لیتیوم نیوبات (</strong><span dir="LTR">LiNbo₃</span><strong>&nbsp;) و پلیمر پلی استیرن سولفونات اسید&nbsp;</strong><span dir="LTR">(PSSA)</span><strong>، مورد استفاده قرار گیرد.</strong></p> <p>Time-Domain Optical coherence tomography is utilized as a non-contact and non-invasive method for thickness measurement. because of using broadband and low coherence light source, this method has high accuracy and axial resolution. In this paper, we will experimentally illustrate that technique of Optical coherence tomography can be used as an accurate way to measure micron thickness of transparent layer i.g. birefringent crystal of lithium niobate and polymer of PSSA.</p> مقطع نگاری همدوس نوری , منبع نور پهن باند, طول همدوسی, ضخامت سنجی optical coherence tomography, broadband light source, coherence length, thickness measurement 537 540 http://opsi.ir/browse.php?a_code=A-10-1-1249&slc_lang=fa&sid=1 Fatemeh Gorgannejad فاطمه گرگان نژاد F_Gorgannejad@yahoo.com 10031947532846005446 10031947532846005446 Yes پژوهشکده لیزر و پلاسما Atoosa Sadat Arabanian آتوسا سادات عربانیان 10031947532846005447 10031947532846005447 No پژوهشکده لیزر و پلاسما Reza Massudi رضا مسعودی R-Massudi@sbu.ac.ir 10031947532846005448 10031947532846005448 No