اشتراک در خبرنامه
لطفاً نشانی پست الکترونیک خود را برای دریافت اطلاعات و اخبار پایگاه در کادر زیر وارد کنید.
آمار سایت
- کل کاربران ثبت شده: 1962 کاربر
- کاربران حاضر در وبگاه: 0 کاربر
- میهمانان در حال بازدید: 651 کاربر
- تمام بازدید‌ها: 21845541 بازدید
- بازدید ۲۴ ساعت گذشته: 28750 بازدید
کنفرانس های انجمن
همایش
اپتیک و فوتونیک،
بهمن 1403
(برگزار شد)
استفاده از مطالب ارائه شده در این پایگاه با ذکر منبع آزاد می باشد.
سال 28، شماره 2 - ( مجموعه مقالات پذیرفته و ارائه شده در بیست و هشتمین کنفرانس اپتیک و فوتونیک ایران 1400 )
ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS سال28 صفحات 437-434 |
برگشت به فهرست نسخه ها
Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
Kavosh Tehrani M, Abdalhade A, kiani A. Measurement of refractive index and thickness of MgF2 thin film on BK7 substrate by null ellipsometry. ICOP & ICPET _ INPC _ ICOFS 2022; 28 (2) :434-437
URL: http://opsi.ir/article-1-2755-fa.html
URL: http://opsi.ir/article-1-2755-fa.html
کاوش تهرانی مسعود، عبدالهادی آصف، کیانی علی. اندازه گیری ضریب شکست و ضخامت لایه نازک MgF2 بر روی بستر BK7 به روش بیضی سنجی نول. مقالات پذیرفته و ارائه شده در کنفرانس‌های انجمن اپتیک و فوتونیک ایران. 1400; 28 (2) :434-437
چکیده: (638 مشاهده)
در این تحقیق بااستفاده از چیدمان آزمایشگاهی بیضی سنجی نول ضریب شکست و ضخامت لایه MgF2 بر روی بستر BK7 اندازه گیری شده است. در این چیدمان با تابش نور لیزر هلیوم نئون تحت زوایای 45، 50 و 55 درجه به نمونه ضریب شکست و ضخامت لایه MgF2 توسط برنامه نوشته شده در نرم افزار متلب تعیین گردیده است. نتایج به دست آمده با نتایج واقعی تطابق خوبی نشان می دهد
ارسال پیام به نویسنده مسئول
| بازنشر اطلاعات | |
 |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |
